・パワートランジスタ、サイリスタ等の個別半導体デバイスのテストにご使用頂けます。

・挿抜耐久性：1,000 cycles(note*) note* : 弊社製作の試験用リードピンよる。
・接触抵抗：20 mΩ max
・定格電流：DC30 A at 25℃
・絶縁抵抗：500 MΩ min
・耐電圧：DC1500V 1min, AC2000Vrms 1min at 25℃
・使用温度範囲：-55℃〜+150℃
・ハンドルを手前に倒す事により導通させるZIF構造です。
【注意】ICは付属されません。
 Drawing